有機・高分子材料の形態観察、表面解析、組成分析は株式会社日東分析センターにお任せ下さい。

高分子分析に関する分析事例を更新しました ~チップコンデンサの断面観察_IP-SEM~
更新日:2015/06/03

走査型電子顕微鏡(SEM)や光学顕微鏡(OM)による材料の断面形態評価に際して、Arイオンビーム照射で断面作製を行うイオンポリッシング法は、塑性変形のない良好な試料断面が得られることから、多くの実績を残してきました。しかし、従来のイオンポリッシング法では1mm幅程度の加工が限界であり、観察視野の狭さが問題となっていました。そこで当社は、新たに幅広加工用に開発されたイオンポリッシング法を採用することで、従来法と比較して3~4倍の広範囲(ミリメートルオーダー)の構造評価を一度に行うことができるようになりました。

 タイトル:mmオーダーで塑性変形のない良好な試料断面作製ができます(088)〔形態観察〕
 観察事例:チップコンデンサの断面観察_IP-SEM

高分子分析に関する分析事例を更新しました ~EVAフィルムのTOF-SIMSによる表面分析_TOF-SIMS~
更新日:2015/05/27

高分子材料には様々な添加剤が配合されていますが、製造条件、保管条件によって添加剤は材料表面に移行、偏析することがあります。添加剤の表面偏析は曇りや変色だけでなく、周辺部材への移行により接点不良などの原因になる場合があります。
このようなトラブルの原因を解明するためには、材料の表面分析を行い添加剤成分の有無を調べる必要があります。
TOF-SIMSは化学構造を決定できる点、感度、空間分解能が高い点、分析深さが浅い点で、他の表面分析法より優れています。また、マッピング測定により元素のみならず分子イメージング像も得られ、分布状態の解析に有効です。

 タイトル:表面偏析物の化学組成と分布状態がわかります(019)〔表面分析〕
 分析事例:EVAフィルムの表面分析_TOF-SIMS

高分子分析に関する分析事例を更新しました ~オイル中添加剤のGC/MS/NPD/FPDによる同定_GC/MS/NPD/FPD~
更新日:2015/05/20

高分子材料には、機能の向上や維持のためにさまざまな添加剤が配合されています。添加剤の中には窒素(N),リン(P),硫黄(S)を含む化合物が多く、これらの検出にはガスクロマトグラフィー(GC)の検出器であるNPD(N系とP系化合物の選択検出器),FPD(S系化合物の選択検出器)が有用です。
GC/MS/NPD/FPDは、夾雑ピークと重なった場合や多数のピークが存在する場合においても容易にN,P,S系化合物のピークを見つけだし、同定することが可能です。

 タイトル:窒素,リン,硫黄系化合物を選択検出し、同定することができます(101)〔組成分析〕
 分析事例:オイル中の添加剤の同定_GC/MS/NPD/FPD

有機・高分子材料の組成分析について発表します(第42回湘南ハイテクセミナー)
更新日:2015/04/06

開催日 : 2015年6月5日
場所 : みなとみらいKUポートスクエア
主催 : 神奈川大学総合理学研究所

有機・高分子材料の組成分析
発表者 : (豊橋分析センター)松尾 大輔

電気物性SPMの紹介について発表します(実用表面分析セミナー2014)
更新日:2014/11/28

開催日 : 2014年11月28日
場所 : 神戸大学 百年記念館 六甲ホール
主催 : 日本表面科学会


電気物性SPMの紹介
発表者 : (表面解析研究部)國年 弘二

お問い合わせ・ご相談

形態観察、表面分析、組成分析など、評価・分析に関するご質問・ご依頼は、
お気軽にお問い合わせください。

  • ご依頼・お問い合わせ
  • ご依頼の流れ 営業所・分析拠点案内

ページトップへ戻る