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電界放射型オージェ電子分光分析装置

Field Emission Auger Electron Spectroscopy(FE-AES)

電界放射型オージェ電子分光分析装置

概要

試料に電子ビームを照射し、表面から放出されるオージェ電子を検出する表面元素分析装置です。

特徴

  • 表面分析の中で最も微小な領域(最小分析径は10nm)の元素分析が可能。
  • 極表面層の元素(Li以上)を検出可能。
  • 線分析、面分析、深さ方向分析が可能。
  • 化学結合状態に関する情報も得られる。
  • 測定は高真空中。

測定対象試料とサイズ

直径1インチ、厚み10mm以下(これより大きい場合はご相談下さい。)
(高真空中で揮発する試料は測定に向きません。)
注)取り扱い時、測定面の汚染に十分注意してください。

電子ビーム照射により試料から発生する情報
電子ビーム照射により試料から発生する情報

分析事例一覧

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