X線回折装置
X-ray Diffractometry（XRD）
概要
X線を結晶に照射すると、X線は周期的に規則正しく配列している結晶内の原子により回折されます。この回折パターンが物質に固有であることを利用し、物質中の原子・分子配置の周期性に関する情報を得る装置です。
特徴
- 混合物試料について個々の化合物を固定可能。
- 微小部（50μmφ）測定も可能。
- 混合物中の微量成分は検出できないことがある。
測定対象試料と必要量
結晶質であるもの（気体、液体、非晶質であるものを除く。）
分析事例一覧
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