有機・高分子材料の形態観察、表面解析、組成分析は株式会社日東分析センターにお任せ下さい。

電子・半導体部品等の工業製品では、製造環境や製品原料からのパーティクルの混入が品質に影響を及ぼします。しかし、改善に向けて検証を行う際に、多量の微小パーティクルを分離・解析することは通常膨大な時間と労力を要し、人手では困難です。そこで、当社では、粒子解析法を用いることで、パーティクルの量(数)・サイズ・形状・成分・元素等で分離し、統計的に解析することを可能にしました。

分析事例：処理液中の経時でのパーティクル量変化測定

高分子材料は材料に応じた架橋反応を施し物理特性や耐久性を発現させています。その架橋剤の1つにラジカル系の架橋剤である有機過酸化物(パーオキシド)が使われており、その構造を把握することは製品の特性を評価するうえで重要です。有機過酸化物は熱不安定成分であり、熱劣化が生じない評価方法が必要となります。ここでは過酸化物(安定剤の芳香族有機溶剤含有)をUPLCで精密分取し、DI-MS (直接導入質量分析)およびFT-IRにて分析した事例を紹介します。

過酸化物 (クメンヒドロペルオキシド) の成分分析

入力補償型DSCは、試料ホルダーの熱容量が非常に小さいために、加熱/冷却速度ともに750℃/minでの制御が可能です。高速加熱/冷却測定は高感度測定であり、製造時におけるシミュレーションがDSCセル内で可能となります。高感度測定において、DSCの出力である熱流(単位時間における入力エネルギー量の差：Heat Flow)は、加熱/冷却速度と試料量と試料の比熱容量の積になります(Q=m・Cp・dT/dt)。つまり、加熱/冷却速度を大きくすればDSCシグナルはそれに比例して出力されます。ここでは、ポリエチレンテレフタレート(PET)を高速加熱測定することで再組織化を抑制する事例を紹介します。

PETの再組織化(再結晶化)抑制測定

フィルム製品の製造工程において、変色等の不良が問題となるケースがあります。しかしながら、近年の多層薄膜化に伴い不良は内部に存在しているだけでなく、原因となる成分は非常に微量なため、詳細分析が困難な場合がありました。そこで、検出感度の高いTOF-SIMS測定と、アルゴンガスクラスターイオンビーム（Ar-GCIB）エッチングを併用した深さ方向分析によって、不良の存在箇所および原因物質を解明した事例を紹介します。

多層薄膜フィルムの変色原因分析

ハロゲンは腐食等に影響するため、電子部品など各種部材中の含有量を正確に把握することは非常に重要です。一般的に燃焼IC（イオンクロマトグラフ）法はハロゲンの定量分析手法の一つですが、ハロゲンのうちヨウ素は吸収液への溶解性等の問題から、従来、正確に定量することが困難でした。当社では、前処理条件を工夫し、ヨウ素を正確に定量することが可能となりました。今回はジヨードメチル-p-トリルスルホンのヨウ素を定量した事例を紹介します。

ジヨードメチル-p-トリルスルホンのヨウ素量　回収率確認