夏季休暇のご案内
いつもご愛顧、ご利用いただき、誠にありがとうございます。
当社の夏季休暇期間中の営業日は各拠点により異なっておりますので、
右図カレンダーをご参照ください。
休業日のWEBサイトからのお問合せは受け付けておりますが、
回答は8月21日以降に順次対応いたします。
ご迷惑をおかけいたしますが、ご了承の程よろしくお願い申し上げます。
2017年8月13日（日）～2017年8月20日（日）
となっております。
休業期間中のWEBサイトからのお問合せにつきましては、
8月21日(月)からのご対応となります。
ご迷惑をおかけいたしますが、ご了承くださいますようよろしくお願い申し上げます。
極薄局所領域の欠陥が可視化できます。
近年、注目を集めている材料の中にグラフェンを代表とする低次元物質系があります。低次元物質はその特異な物性、電子構造により電子デバイスやフレキシブル透明電極、センサーなどへの応用が期待されています。低次元物質の評価には各種分光法や顕微鏡法が利用され、走査型プローブ顕微鏡（SPM）もその1つです。SPMは、積層状態や電位状態の評価、電子デバイス化した際のin situ分析などに利用されています。今回は、最も基本的な形状観察から単原子ステップの観察事例を紹介します。
タイトル：極薄局所領域の欠陥が可視化できます（145）
分析事例1：グラフェンの走査型超音波顕微鏡観察
空間分解能1nmで材料の状態解析ができます
優れた導電性や熱伝導性、さらにコストの優位性から電子材料をはじめ様々な工業製品に用いられる銅は、他の材料との接合面となる表面状態をコントロールすることが重要です。EELS（電子エネルギー損失分光）を複合化したTEM分析を用いれば、微細加工された銅の特定部位（空間分解能1nm）の状態解析を行うことが可能です。
圧延銅箔の表面層を断面TEM分析した結果を図1に示します。圧延銅箔表面には膜厚8nm程度の表面層が形成されており（a）、同領域でのEELS測定（b）、および、TEM像のフーリエ変換パターン（c）の解析結果より、表面層はCu2Oと同定されました。また、表面層は5nm程度のCu2O微結晶から成ること（a）、さらに、Cu母結晶の(111)面を一致させたCu2O微結晶がエピタキシャル成長していること（c）がわかりました。
タイトル：空間分解能1nmで材料の状態解析ができます（146）
分析事例1：圧延銅箔表面層の断面TEM分析
GW期間中の営業日のご案内
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当社のゴールデンウィーク期間中の営業日は各拠点により異なっておりますので、
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高分子に関する分析事例を更新しました ～サブμm～mmオーダーの三次元構造を高分解能観察できます(X線CT)
X線CTはサブμm～mmオーダーで試料内部の三次元構造を非破壊かつ高分解能で観察できます（設定ピクセルサイズ：約55～0.3μm/pixel、観察範囲約110～0.6 mm）。また、各種in situ観察（圧縮、引張、加熱、冷却）機能を有しており、試料の変形などを立体的に観察することができます。
次世代産業（航空機、次世代自動車）の主要部材である炭素繊維強化プラスチック（CFRP）は、炭素繊維間に空隙があると材料強度が低下すると考えられます。そこで、剥離し易いCFRPについて、高分解能X線CTを用いて内部の空隙を可視化・数値化し、剥離し易さの原因を検証しました。
タイトル：サブμm～mmオーダーの三次元構造を高分解能観察できます（144）〔形態観察〕
分析事例1：CFRPの非破壊三次元構造観察と解析
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