TOF-SIMSを用いた高分子材料の表面現象のメカニズム解明について発表いたします (アルバック・ファイ技術講演会)
開催日 ： 2018年6月8日
場所 ： 建築会館(東京)
主催 ： アルバック・ファイ株式会社
TOF-SIMSを用いた高分子材料の表面現象のメカニズム解明
発表者 ： （茨木解析技術部）前野 直人
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表面弾性率の局所イメージングができます
ミクロ相分離構造を持つ高分子ブレンド系において、局所的な機械的特性評価は重要です。例えば、ABS樹脂や耐衝撃性ポリスチレンなどのゴム成分を分散させた樹脂では、ゴムの弾性率がマクロな機械特性と密接に関わっています。近年の理論面と実験面の発展により、微小な探針で試料表面をスキャンする走査型プローブ顕微鏡においても、弾性率を定量的に求めることができるようになってきました。ここではフォースカーブマッピング法を用いた測定事例を紹介します。
タイトル：表面弾性率の局所イメージングができます（148）
分析事例1：ポリスチレン/ポリメタクリル酸メチルブレンド膜の表面弾性率イメージング
極薄局所領域の欠陥が可視化できます。
近年、注目を集めている材料の中にグラフェンを代表とする低次元物質系があります。低次元物質はその特異な物性、電子構造により電子デバイスやフレキシブル透明電極、センサーなどへの応用が期待されています。低次元物質の評価には各種分光法や顕微鏡法が利用され、走査型プローブ顕微鏡（SPM）もその1つです。SPMは、積層状態や電位状態の評価、電子デバイス化した際のin situ分析などに利用されています。今回は、最も基本的な形状観察から単原子ステップの観察事例を紹介します。
タイトル：極薄局所領域の欠陥が可視化できます（145）
分析事例1：グラフェンの走査型超音波顕微鏡観察
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