「見える化」技術と顕微ラマンマッピングについて発表します （WITec Workshop2016）
開催日 ： 2016年10月25日(火)
場所 ： かながわサイエンスパーク（KSP）
主催 ： WITec Workshop2016（WITec株式会社）
「見える化」技術と顕微ラマンマッピング
発表者 ：(茨木解析グループ) 島田 敬子
環境制御型SPMを用いた各種材料評価 ～SIS物性モードを中心に～ について発表します （AFMソリューションセミナー）
開催日 : 2016年11月1日(火)
場所 : かながわサイエンスパーク(横浜会場)
開催日 : 2016年11月9日(水)
場所 : メルパルク大阪(大阪会場)
主催者 : 株式会社日立ハイテクサイエンス
環境制御型SPMを用いた各種材料評価
発表者 ：(茨木解析グループ) 國年 弘二
粘着テープの機器分析について発表します（粘着技術講座）
開催日 ： 2016年10月21日(金)
場所 ： 大阪科学技術センター(大阪会場)
主催 ： (日粘工)技術部
粘着テープの機器分析
発表者 ：(豊橋解析グループ) 杉本 孝徳
導電性樹脂に関する分析事例を更新しました ～導電性フィラーの分散性と導電パスの同一視野観察ができます_SPM、EFM、C-AFM～
導電性樹脂は、絶縁物である樹脂に導電性を付与するために、カーボンブラックや金属粒子，導電性ポリマーなどの導電性フィラーが添加されています。そのため、導電性フィラーの分散性が機能発現のためのキーパラメータであり、分散性を評価することが重要です。一般的に分散性を評価するには電子顕微鏡を用いることが多いですが、今回は走査プローブ顕微鏡（SPM）の中の電気物性モードを使用して、同一視野内で導電性フィラーの分散状態と導電パスを評価した事例を紹介します。なお、用いたモードは静電気力顕微鏡（EFM）とコンダクティブ-AFM（C-AFM）です。
タイトル：導電性フィラーの分散性と導電パスの同一視野観察ができます（134）〔表面分析〕
分析事例1：導電性樹脂のEFM/C-AFM同一視野観察
高分子分析に関する分析事例を更新しました ～熱伝導性の違いで高分子のミクロ相分離構造が観察できます_SPM、SThM～
高分子ミクロ相分離構造は、高分子の力学的、熱的、光学的性質を決定する重要なファクターです。その観察には重金属染色処理を施した試料を電子顕微鏡で観察するのが一般的です。しかしながら、重金属染色処理は、染色剤が劇毒物であること、染色条件を決めるため熟練度が必要であること、染め分けられた成分の同定が困難であることなどの問題があります。
そこで、近年、発展の著しい走査型プローブ顕微鏡（SPM）から派生した走査型サーマル顕微鏡（SThM）法による高分子ミクロ相分離構造の観察事例を紹介します。SThMは熱伝導性の違いを可視化する顕微鏡法です。
タイトル：熱伝導性の違いで高分子のミクロ相分離構造が観察できます（135）〔表面分析〕
分析事例1：PMMA/PStの相分離構造観察
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