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TOF-SIMSを用いた高分子材料の表面現象のメカニズム解明について発表いたします (アルバック・ファイ技術講演会)
更新日:2018/06/01

開催日 : 2018年6月8日
場所 : 建築会館(東京)
主催 : アルバック・ファイ株式会社

TOF-SIMSを用いた高分子材料の表面現象のメカニズム解明
発表者 : (茨木解析技術部)前野 直人

表面弾性率の局所イメージングができます
更新日:2017/11/20

 ミクロ相分離構造を持つ高分子ブレンド系において、局所的な機械的特性評価は重要です。例えば、ABS樹脂や耐衝撃性ポリスチレンなどのゴム成分を分散させた樹脂では、ゴムの弾性率がマクロな機械特性と密接に関わっています。近年の理論面と実験面の発展により、微小な探針で試料表面をスキャンする走査型プローブ顕微鏡においても、弾性率を定量的に求めることができるようになってきました。ここではフォースカーブマッピング法を用いた測定事例を紹介します。
タイトル:表面弾性率の局所イメージングができます(148)

分析事例1:ポリスチレン/ポリメタクリル酸メチルブレンド膜の表面弾性率イメージング

極薄局所領域の欠陥が可視化できます。
更新日:2017/07/18

 近年、注目を集めている材料の中にグラフェンを代表とする低次元物質系があります。低次元物質はその特異な物性、電子構造により電子デバイスやフレキシブル透明電極、センサーなどへの応用が期待されています。低次元物質の評価には各種分光法や顕微鏡法が利用され、走査型プローブ顕微鏡(SPM)もその1つです。SPMは、積層状態や電位状態の評価、電子デバイス化した際のin situ分析などに利用されています。今回は、最も基本的な形状観察から単原子ステップの観察事例を紹介します。
タイトル:極薄局所領域の欠陥が可視化できます(145)

分析事例1:グラフェンの走査型超音波顕微鏡観察

空間分解能1nmで材料の状態解析ができます
更新日:2017/07/18

 優れた導電性や熱伝導性、さらにコストの優位性から電子材料をはじめ様々な工業製品に用いられる銅は、他の材料との接合面となる表面状態をコントロールすることが重要です。EELS(電子エネルギー損失分光)を複合化したTEM分析を用いれば、微細加工された銅の特定部位(空間分解能1nm)の状態解析を行うことが可能です。
圧延銅箔の表面層を断面TEM分析した結果を図1に示します。圧延銅箔表面には膜厚8nm程度の表面層が形成されており(a)、同領域でのEELS測定(b)、および、TEM像のフーリエ変換パターン(c)の解析結果より、表面層はCu2Oと同定されました。また、表面層は5nm程度のCu2O微結晶から成ること(a)、さらに、Cu母結晶の(111)面を一致させたCu2O微結晶がエピタキシャル成長していること(c)がわかりました。

タイトル:空間分解能1nmで材料の状態解析ができます(146)

分析事例1:圧延銅箔表面層の断面TEM分析

高分子分析に関する分析事例を更新しました ~ラジカル重合型光開始剤の組成分析_HPLC~ ~カチオン重合型光開始剤の構造解析_TOF-SIMS~
更新日:2017/01/08

液晶パネルのシール剤や接着剤など、速硬化,精密加工用途として紫外線(UV)硬化型樹脂(あるいはUV硬化+熱硬化のハイブリッド型)が使用されることが多くなっています。一般的に、UV硬化型樹脂は①オリゴマー,②(多官能)モノマー,③光開始剤,④フィラー等、多成分が含まれており、これらの組成分析は、通常、分取GPCを用いて分子量ごとに成分分離を行った後、それぞれの分画について構造決定を行います。

 タイトル:重合開始剤の組成および含有量がわかります(008)〔組成分析〕
 分析事例1:ラジカル重合型光開始剤の組成分析_HPLC
 分析事例2:カチオン重合型光開始剤の構造解析_TOF-SIMS

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