有機・高分子材料の形態観察、表面解析、組成分析は株式会社日東分析センターにお任せ下さい。

高分子分析に関する分析事例を更新しました ~有機フィルム表面処理層の深さ方向分析_Ar-GCIB-TOF-SIMS~
更新日:2015/09/16

高分子フィルムの表面には、様々な機能(帯電防止性、防汚性、軽剥離性、易接着性等)を付与するために、表面処理が施されています。表面処理層の有機組成や厚み方向での成分分布を評価することは、製品設計や故障解析において非常に重要ですが、処理層の厚みは100nm以下と薄い場合が多く、従来は詳細な分析が困難でした。このような処理層について、アルゴンガスクラスターイオンビーム(Ar-GCIB)を用いた飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)のデプスプロファイル測定によって、精密な深さ方向分析が可能となりました。

 タイトル:極薄膜中の有機成分の深さ方向分布を調べることができます(073)〔表面分析〕
 分析事例:有機フィルム表面処理層の深さ方向分析_Ar-GCIB-TOF-SIMS

ナノインデンテーション法を用いた表面解析技術の紹介について発表します (実用表面分析セミナー2015)
更新日:2015/09/08

開催日 : 2015年11月6日(金)
場所 : 神戸大学 百年記念館 六甲ホール
主催 : 日本表面科学会


ナノインデンテーション法を用いた表面解析技術の紹介
発表者 : (茨木分析センター)二軒谷 亮

粘着テープの機器分析について発表します(第39回・第40回粘着技術講座)
更新日:2015/08/27

開催日:2015年 8月27日(木)~28日(金)(東京)
    2015年11月19日(木)~20日(金)(大阪)

場所:自動車会館(東京)
   大阪科学技術センター(大阪)

主催:日本粘着テープ工業会 技術部会


粘着テープの機器分析
発表者 : (豊橋分析センター)川野 雄作

東京営業所移転のご案内
更新日:2015/08/04

東京営業所移転のご案内

平成27年8月17日(月)より、東京営業所を同じ品川区内の下記住所に移転します。
今後とも一層のご愛顧を賜りますようお願い申し上げます。

新 住 所  〒140-0002
      東京都品川区東品川4-12-4 品川シーサイドパークタワー7F
      日東電工(株)東京支店内
電話番号  03-6631-1658
FAX番号 03-6631-1621


高分子分析に関する分析事例を更新しました ~口紅の断面元素マッピング_冷却FIB-SEM-EDX~
更新日:2015/06/24

ソフトマテリアルにおいては、着色、酸化防止、粘度調整などの目的でさまざまな添加剤を使用しており、これらが材料内部でどのように分散しているのかを把握して材料設計にフィードバックすることが極めて重要となります。しかし、これまで、液状やペースト状の材料の元素分布を正確に把握することは困難でした。弊社では、冷却機能付集束イオンビーム/走査型電子顕微鏡複合装置(冷却FIB-SEM)と高感度の元素分析(EDX)検出器を併用することで、さまざまなソフトマテリアルの元素情報取得が可能となりました。

 タイトル:柔らかい材料の元素分析が可能です(103)〔形態観察〕
 分析事例::口紅の断面元素マッピング_冷却FIB-SEM-EDX

お問い合わせ・ご相談

形態観察、表面分析、組成分析など、評価・分析に関するご質問・ご依頼は、
お気軽にお問い合わせください。

  • ご依頼・お問い合わせ
  • ご依頼の流れ 営業所・分析拠点案内

ページトップへ戻る