高分子分析に関する分析事例を更新しました ～口紅の断面元素マッピング_冷却FIB-SEM-EDX～
ソフトマテリアルにおいては、着色、酸化防止、粘度調整などの目的でさまざまな添加剤を使用しており、これらが材料内部でどのように分散しているのかを把握して材料設計にフィードバックすることが極めて重要となります。しかし、これまで、液状やペースト状の材料の元素分布を正確に把握することは困難でした。弊社では、冷却機能付集束イオンビーム/走査型電子顕微鏡複合装置（冷却FIB-SEM）と高感度の元素分析（EDX）検出器を併用することで、さまざまなソフトマテリアルの元素情報取得が可能となりました。
タイトル：柔らかい材料の元素分析が可能です(103)〔形態観察〕
分析事例：：口紅の断面元素マッピング_冷却FIB-SEM-EDX
高分子分析に関する分析事例を更新しました ～ESCAによるガラス表面の粘着剤転写量の分析～ ～TOF-SIMSによるガラス表面の粘着剤転写成分の定性分析～
粘着テープの利点の一つとして簡単に剥がせることが挙げられますが、剥離した後、粘着剤成分の被着体への汚染がしばしば問題となります。汚染成分を調べるには、X線光電子分光装置(ESCA)や飛行時間型2次イオン質量分析装置(TOF-SIMS)を用いた表面分析が有効です。ESCAは汚染量の定量的な評価に、TOF-SIMSは汚染成分の特定に力を発揮します。これらの分析結果を元に低汚染性の粘着テープの開発につなげることが可能となります。
タイトル：極表面成分の化学状態まで定量できます(021)〔表面分析〕
分析事例1：ESCAによるガラス表面の粘着剤転写量の分析_ESCA
分析事例2：TOF-SIMSによるガラス表面の粘着剤転写成分の定性分析_TOF-SIMS
高分子分析に関する分析事例を更新しました ～耐候性フィルムの添加剤分析_LC/FT-MS～
高分子材料には、機能の向上や維持のために様々な添加剤が配合されています。それらを同定する場合、高分子材料から抽出し、さらに目的の成分を分離して分析するため、成分分離を行う液体クロマトグラフィー（LC）と化合物の質量情報を与える質量分析計（MS）を組み合わせたLC/MS法が適しています。当社で保有するLC/MS装置の質量分析計（MS）には、フーリエ変換質量分析計（FT-MS）が搭載されおり、化合物を構成する原子の種類と数を明らかにできるため、高精度な定性分析が可能になりました。ここでは、LC/FT-MSを用いて、耐候性フィルム中の添加剤を分析した事例をご紹介します。
タイトル：LC/FT-MSによる精密質量測定で組成分析が変わります(077)〔組成分析〕
分析事例：耐候性フィルムの添加剤分析_LC/FT-MS
高分子分析に関する分析事例を更新しました ～チップコンデンサの断面観察_IP-SEM～
走査型電子顕微鏡(SEM)や光学顕微鏡(OM)による材料の断面形態評価に際して、Arイオンビーム照射で断面作製を行うイオンポリッシング法は、塑性変形のない良好な試料断面が得られることから、多くの実績を残してきました。しかし、従来のイオンポリッシング法では1mm幅程度の加工が限界であり、観察視野の狭さが問題となっていました。そこで当社は、新たに幅広加工用に開発されたイオンポリッシング法を採用することで、従来法と比較して3～4倍の広範囲(ミリメートルオーダー)の構造評価を一度に行うことができるようになりました。
タイトル：ｍｍオーダーで塑性変形のない良好な試料断面作製ができます(088)〔形態観察〕
観察事例：チップコンデンサの断面観察_IP-SEM
高分子分析に関する分析事例を更新しました ～EVAフィルムのTOF-SIMSによる表面分析_TOF-SIMS～
高分子材料には様々な添加剤が配合されていますが、製造条件、保管条件によって添加剤は材料表面に移行、偏析することがあります。添加剤の表面偏析は曇りや変色だけでなく、周辺部材への移行により接点不良などの原因になる場合があります。
このようなトラブルの原因を解明するためには、材料の表面分析を行い添加剤成分の有無を調べる必要があります。
TOF-SIMSは化学構造を決定できる点、感度、空間分解能が高い点、分析深さが浅い点で、他の表面分析法より優れています。また、マッピング測定により元素のみならず分子イメージング像も得られ、分布状態の解析に有効です。
タイトル：表面偏析物の化学組成と分布状態がわかります(019)〔表面分析〕
分析事例：EVAフィルムの表面分析_TOF-SIMS
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