【組成分析】 高分子材料中の添加剤のイメージングができます
高分子材料には、その機能を発現するためにさまざまな添加剤が配合されています。これらの添加剤は、製品使用環境のさまざまな因子により劣化・変性することが知られています。その変化の挙動と分布状態を把握することは、製品の信頼性を評価するうえで重要です。近年、MALDI-TOF MSのイメージング機能を用いることで、比較的広範囲での分子イメージングが可能となってきました。ここでは、UV照射を行ったEVAフィルム(安定剤含有)に適用した測定事例を紹介します。
タイトル:高分子材料中の添加剤のイメージングができます(154)
分析事例1:EVAフィルム中の酸化防止剤およびその劣化物のMALDIイメージング
高分子材料の表面現象解明におけるTOF-SIMSの役割について発表します
開催日:2019年2月21日
場所:大阪大学 中ノ島センター
主催:表面分析研究会 第52回研究会
高分子材料の表面現象解明におけるTOF-SIMSの役割
発表者 : (茨木解析技術部)前野 直人
X線顕微鏡を用いた解析事例の紹介~非破壊分析でここまでわかる!~について発表します
開催日:2019年2月6日
場所:ヒルトン大阪(大阪)
主催:カールツァイス株式会社
X線顕微鏡を用いた解析事例の紹介
発表者 : (茨木解析技術部)川西 隆史
TOF-SIMSを用いた解析事例の紹介について発表します(2018年度 第4回 構造接着研究講演会)
開催日:2019年2月1日
場所:工学院大学 新宿キャンパス28階第1会議室(東京)
主催:一般社団法人日本接着学会 構造接着研究会
TOF-SIMSを用いた解析事例の紹介
発表者 : (茨木解析技術部)高田 尚
MALDI-TOF/MSによる高分子材料の分析について解説します
開催日:2019年2月15日
場所:技術情報協会 セミナールーム(東京・五反田)
主催:株式会社 技術情報協会
MALDI-TOF/MSによる高分子材料の分析
発表者 : (豊橋解析技術部)杉本 孝徳