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蛍光X線分析装置

X-Ray Fluorescence spectrometry(XRF)

蛍光X線分析装置

概要

試料にX線(一次X線)を照射して得られた蛍光X線(特性X線)を分光結晶で分光し、元素の特定を行います。試料中に含まれているB(ボロン)からU(ウラン)までの元素を数100~数ppmオーダーで分析ができます。

特徴

  • 前処理なしで迅速に分析可能
  • 非破壊分析
  • ファンダメンタルパラメーター(FP)法を用いて標準試料なしに半定量が可能
  • SEM-XMAよりも大きな面積の元素分析が可能

測定対象試料と必要量

高分子材料、複合材料、無機化合物、金属
固体等:10g程度
液体試料:0.5mL程度

注)粉体はプレスして、液体はろ紙に滴下して、分析を行います。

XRFの模式図

お問い合わせ・ご相談

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