通信
大型ケーブルから身体に取り付けるウェアラブルまで幅広く対応します。
ケーブル・電子部品
現行の部品から将来に向けた通信インフラまで、様々な製品の分析を行います。
ウェアラブル
装着可能なIoT機器特有の微小で高精度な部品の分析はおまかせください。
スマートフォン・タブレット
ディスプレイ、タッチパネルなどの分析経験が豊富です。
分析事例一覧
- 難溶解性物質でもレーザー前処理による微量成分の定量が可能です
- 半導体封止材中のTh、U分析 100pptの定量ができます
- 材料の応力を可視化できます
- 低級アミンの高感度分析（IC/MS）
- 繊維の配向を三次元で定量的に捉えることができます
- 光硬化型樹脂の硬化過程の粘弾性挙動がわかります
- 無機材料表面の水酸基量を調べます（チタン板）
- 低ダメージ＋高感度な元素マッピングが可能です
- 複合分析により製品の機能に繋がる要因を明らかにします
- 電子部品をそのままのサイズで高分解能に観察できます
- FT-IRによるマッピング・イメージング評価
- イメージどおりに元素マッピングできます
- 非常に薄い表面付着物の組成がわかります
- 高速加熱測定を用いたシミュレーションが可能です
- 腐食などに影響するヨウ素を正確に定量できます
- 変形しやすい材料の断面加工ができます
- 延伸過程におけるフィラー分散状態の変化が観察可能です
- 無機材料表面の水酸基量を調べます（アルミ箔）
- UV硬化型樹脂（未硬化）の詳細な組成がわかります
- ナノメートルオーダーの内部形態を三次元で観察できます
- 材料に負荷が加わった際の『変化』を『可視化』できます
- FIB-SEMにより高分解能での三次元構造観察が可能です
- 元素の価数とその分布状態がわかります
- 材料間に働く相互作用を評価できます
- 貼り合わせ界面の分子情報をそのまま取得できます
- 和周波発生分光法(SFG)を用いて表面/界面分子構造を分析します
- 熱による分解挙動と外観変化を同時に確認できます
- 材料表面へのタンパク質吸着性が評価できます
- 内部構造を非破壊で定量的に評価できます
- 高分子の表面転移温度がわかります
- 空間分解能1nmで材料の状態解析ができます
- 極薄局所領域の欠陥が可視化できます
- 導電性フィラーの分散性と導電パスの同一視野観察ができます
- ナノ～ミクロンオーダーの分極状態がわかります
- 有機EL材料のバンド曲がりを評価できます
- 大気非暴露下での組成分析が可能です
- リチウムイオン電池正極の導電分布の可視化ができます
- 有機ELディスプレイの断面構成がわかります
- 大気非暴露下での断面観察が可能です
- 高分子の結晶の状態が分かります
- 高分子の自由体積が測れます
- 材料中のナノスケールの空孔が測れます
- ケイ素材料の構造がわかります～シリカの化学結合状態解析～
- 柔らかい材料の元素分析が可能です
- 複合材料の三次元元素マッピングが可能です
- 窒素,リン,硫黄系化合物を選択検出し、同定することができます
- 有機/無機複合材料の成分分布を明らかにできます
- 複合材料（アルミニウム蒸着層）の観察が行えます
- 空気気流下で促進加熱した際の発生成分がわかります
- ナノ～ミクロンオーダーの電流分布がわかります
- ナノ～ミクロンオーダーの磁区構造がわかります
- ナノ～ミクロンオーダーの仕事関数分布がわかります
- 熱変形しやすい材料のミリメートルオーダーの形態評価ができます
- ミリメートルオーダーで塑性変形のない良好な試料断面作製ができます
- 電解液の微量水分および溶媒組成が同時評価できます
- フッ素系高分子の構造が詳細にわかります～微量成分の特定～
- フッ素系高分子の構造が詳細にわかります～高次構造解析～
- 固体NMRで材料の化学構造をそのままの状態で分析できます
- サブミクロンの微小部の化学状態がわかります
- 熱で変形してしまう材料の断面形態評価ができます（無機材編）
- 埋もれた微小異物の組成がわかります
- サブミクロン～ミクロンオーダーの熱伝導性の二次元分布がわかります
- 微量残渣の元素と化学構造がわかります
- 電子材料の局所表面が化学状態までわかります
- ナノオーダーの精度で表面形状がわかります
- TEMでは分析困難な局所異物が評価できます
- SEM-XMAより高分解能で精度よく元素分析できます
- 多層デバイスの断面，界面を元素分析できます
- 何が、どこに、どのような状態で存在するかわかります
- 機能発現のメカニズムをリアルにとらえます
- 極微量物の構造詳細解析能力がアップしました
- 重合開始剤の組成および含有量がわかります
- 材料表面の極微量の有機成分を分析できます
- 微小部の結晶構造や有機薄膜の配向様式を高精度に解析できます
- 1μm厚以下の中間層の組成がわかります
