ディスプレイ
【表面分析】 表面弾性率の局所イメージングができます ～SPM～ (148)
【形態観察】 空間分解能1nmで材料の状態解析ができます ～TEM、EELS～ (146)
【形態観察】 サブμm～mmオーダーの三次元構造を高分解能観察できます ～X線CT～ (144)
【組成分析】 ガスの発生挙動を連続測定することができます ～EGA-MS～ (142)
【表面分析】 高分子相分離構造の温度依存性がわかります ～TM-SPM～ （143）
【表面分析】導電性フィラーの分散性と導電パスの同一視野観察ができます ～SPM〔EFM，C-AFM〕～ （134）
【表面分析】有機EL材料のバンド曲がりを評価できます ～SPM～ (119)
【表面分析】接着剤の硬化度合の評価が可能です ～ナノインデンター～ (132)
【表面分析】極薄膜中の有機成分の深さ方向分布を調べることができます ～Ar-GCIB-TOF-SIMS～ (073)
【表面分析】極薄付着物の組成分布が1ミクロンレベルでわかります ～TOF-SIMS～ (022)
【表面分析】材料表面の揮発性物質を分析できます ～TOF-SIMS～ (043)
【表面分析】材料表面の極微量の有機成分を分析できます ～TOF-SIMS～ (005)
【表面分析】フィルム表面の極性基(水酸基)を高感度に検出できます ～ESCA～ (042)
【表面分析】1μm厚以下でも組成が確実にわかります ～SAICAS、TOF-SIMS～ (001)
【表面分析】極表面成分の化学状態まで定量できます ～ESCA、TOF-SIMS～ (021)
【表面分析】深さ方向の分析が低損傷で行えます ～ESCA(XPS)～ (002)
【表面分析】有機薄膜の深さ方向分析が可能です ～ESCA(XPS)～ (030)
【組成分析】LC/FT-MSによる精密質量測定で組成分析が変わります ～LC/FT-MS～ (077)
【組成分析】LC/FT-MSで光重合開始剤がわかります ～LC/FT-MS～ (078)
【組成分析】重合開始剤の組成および含有量がわかります ～HPLC、TOF-SIMS～ (008)
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