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【組成分析】 高分子材料中の添加剤のイメージングができます (154)
【表面分析】 表面弾性率の局所イメージングができます ~SPM~ (148)
【形態観察】 空間分解能1nmで材料の状態解析ができます ~TEM、EELS~ (146)
【形態観察】 サブμm~mmオーダーの三次元構造を高分解能観察できます ~X線CT~ (144)
【組成分析】 ガスの発生挙動を連続測定することができます ~EGA-MS~ (142)
【表面分析】 高分子相分離構造の温度依存性がわかります ~TM-SPM~ (143)
【表面分析】導電性フィラーの分散性と導電パスの同一視野観察ができます ~SPM〔EFM,C-AFM〕~ (134)
【表面分析】有機EL材料のバンド曲がりを評価できます ~SPM~ (119)
【表面分析】接着剤の硬化度合の評価が可能です ~ナノインデンター~ (132)
【表面分析】極薄膜中の有機成分の深さ方向分布を調べることができます ~Ar-GCIB-TOF-SIMS~ (073)
【表面分析】極薄付着物の組成分布が1ミクロンレベルでわかります ~TOF-SIMS~ (022)
【表面分析】材料表面の揮発性物質を分析できます ~TOF-SIMS~ (043)
【表面分析】材料表面の極微量の有機成分を分析できます ~TOF-SIMS~ (005)
【表面分析】フィルム表面の極性基(水酸基)を高感度に検出できます ~ESCA~ (042)
【表面分析】1μm厚以下でも組成が確実にわかります ~SAICAS、TOF-SIMS~ (001)
【表面分析】極表面成分の化学状態まで定量できます ~ESCA、TOF-SIMS~ (021)
【表面分析】深さ方向の分析が低損傷で行えます ~ESCA(XPS)~ (002)
【表面分析】有機薄膜の深さ方向分析が可能です ~ESCA(XPS)~ (030)
【組成分析】LC/FT-MSによる精密質量測定で組成分析が変わります ~LC/FT-MS~ (077)
【組成分析】LC/FT-MSで光重合開始剤がわかります ~LC/FT-MS~ (078)
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