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原子間力顕微鏡
Atomic Force Microscopy(AFM)

1. 概要

カンチレバーと呼ばれる微小な板ばねを用いて試料表面を走査し、表面形状または様々な物理情報をマッピングする装置です。また、フォースカーブにより、試料表面とカンチレバーの相互作用を評価することができます。


2. 特徴

・3次元形状評価、粘弾性などの分布が得られる。
・液中での測定も可能。
・煩雑な前処理は必要なし。


3. 測定対象試料とサイズ

金属、ポリマーなどの様々な試料(試料の固定ができない場合を除く。)
15×15×2.2cm以下
測定範囲:平面方向 0.5μm角~90µm角、高さ方向 5.5μm

原子間力顕微鏡

分析事例

「表面解析」の項目の「走査型プローブ顕微鏡(SPM)」をご参照ください。

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