EBSD(電子線後方散乱回折) 結晶方位・結晶粒・ひずみを可視化し、材料特性や不具合の要因解析に貢献

日東分析センターでは、「あらゆる『モノ』を可視化して、世界に役立つ『コト』をつくる」を経営理念のビジョンとし、分析評価の技術開発に注力しています。

当社が保有するEBSD(Electron Backscatter Diffraction：電子線後方散乱回折)分析では、材料の結晶方位や結晶粒径、局所的なひずみ分布を高い空間分解能で可視化することが可能です。SEM観察と組み合わせることで、材料組織や加工履歴、破損・劣化メカニズムの解明に貢献します。
さらに、以下の特長により、幅広い材料の評価に対応しています。

• 結晶方位マップ（IPFマップ）により、結晶の配向状態や組織の異方性を評価可能
• グレインマップにより、結晶粒径や再結晶組織の分布を定量的に解析可能
• 微小歪マップにより、加工や変形によって生じた局所的なひずみ状態を可視化可能
• 金属材料、半導体材料、電子部品など、多様な材料の組織解析や不具合解析に対応可能
• EBSDとEDSを組み合わせることで、結晶と元素情報を同時に解析可能

EBSDを活用することで、材料特性の向上や製造プロセスの最適化、不具合要因の解明を支援し、お客様の製品開発および品質向上に貢献します。
分析評価技術において最高のパフォーマンスを発揮し、お客様製品の開発スピードと品質を向上させるため、常に新規技術開発を進めています。

詳細については、以下のPDFよりご確認ください。

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