X線コンピュータ断層撮影（X線CT）

概要

試料にX線を照射して透過像観察を行うことにより、試料の内部構造を明らかにすることができます。また、試料を回転させながら取得した連続透過像を再構成することにより、三次元再構成像を得ることができます。

特徴

• 大気圧下において、非破壊で試料の内部構造の観察が可能。
• µm～mmレベルの三次元構造観察、定量解析が可能
• 最高空間分解能：0.8μm
• In-situ測定対応可能
• 温度可変範囲：－20～160℃
• 引張/圧縮：5000N

常温常圧下で固体、あるいは流動性のない液状体
30cm以下、15kg以下、または切断等によりこのサイズ以下にすることが可能な試料。