【表面分析】 生体・食品試料(毛髪、米)の断面の分析組成分布がわかります ~ TOF-SIMS (206) ~
飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS:Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)は、固体表面にパルスイオンビーム(一次イオン)を照射することにより表面から放出される二次イオンを検出し、得られた質量スペクトルから表面の構成成分を調べる手法です。分析深さは表面から1nm程度であり、極めて表面に敏感な分析手法ですが、適切な手法で断面を作成して分析することにより、深さ(厚み)方向の有機組成分析も実現が可能です。