本文へリンク

半導体封止材中のTh、U分析 100pptの定量ができます

半導体封止材中のフィラーには、シリカが使用されています。このシリカ中のTh、Uはα線の発生源となり、半導体ソフトエラーの原因となるため、 Th、U量を把握する必要があります。このような試料に対して灰化・酸溶解を行うと、対象成分であるTh、Uのみを抽出でき、ICP-MSを用いたTh、Uの100pptの定量が可能となりました。ここでは、この半導体封止材中のTh、U分析事例を紹介します。

半導体封止材中のTh、U分析分析

フィラー分析結果(スキャン)チャート

繰り返し再現性(回収率)

その他の応用

  • 有機溶媒中の不純物元素分析
  • ガラスの成分分析
  • はんだ(Pbフリーはんだ)の成分分析
  • 定性/半定量分析

ユーザー登録がお済みの方

   

PDFをダウンロードするにはユーザー登録が必要です。

お問い合わせ・ご相談

高分子分析、形態観察、表面分析、組成分析など、評価・分析に関するご質問・ご依頼はお気軽にお問い合わせください。

ページトップへ戻る