ディスプレイ
【形態観察】 100 nm以下の三次元構造を非破壊で観察できます ～X線CT(172)～
【組成分析】 ICP-MS/MSで超高感度金属元素分析が可能です ～ICP-MS/MS～ (157)
【組成分析】 標準物質が無くても未知化合物の定量が可能です ～IC(LC)-ICP-MS～ (162)
【熱分析】 フィッシュアイの局所熱分析ができます ～nanoTA～ (155)
【組成分析】 窒素,リン,硫黄系化合物を選択検出し、同定することができます ～GC/MS/NPD/FPD～ (101)
【形態観察】やわらかい材料の元素分析が可能です ～冷却FIB-SEM-EDX～ (103)
【形態観察】複合材料の三次元元素マッピングが可能です ～3D-EDX～ (102)
【形態観察】 空間分解能1nmで材料の状態解析ができます ～TEM、EELS～ (146)
【形態観察】 サブμm～mmオーダーの三次元構造を高分解能観察できます ～X線CT～ (144)
【組成分析】LC/FT-MSで染料の構造に迫ります ～LC/FT-MS～ (079)
【組成分析】 高分子液晶モノマーの組成がわかります ～NMR，LC/MS～ (025)
【会員専用】高分子液晶モノマーの不純物組成分析(602)
【会員専用】ガラス基板多層膜の断面観察(606)
【会員専用】液晶配向膜表面の不純物分析(608)
【会員専用】ガラス表面の微量有機物汚染分析(609)
【会員専用】配線基板変色の要因分析(610)
【会員専用】ACF接合部の状態解析(611)
【会員専用】TOF-SIMSによるガラス表面の薄膜状付着物の分析(736)
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