ナノ材料・微粒子・粉体
【形態観察】イメージどおりに元素マッピングできます ～ SEM-EDX (211) ～
【形態観察】 延伸過程におけるフィラー分散状態の変化が観察可能です ～ 冷却FIB-SEM (196) ～
【形態観察】 トナーの形態・内部構造の観察が可能です ～ TEM (183) ～
【形態観察】 ナノオーダーでの内部形態観察が可能です ～ 3D-TEM (181) ～
【形態観察】 100 nm以下の三次元構造を非破壊で観察できます ～ X線CT (172) ～
【形態観察】 FIB-SEMにより高分解能での三次元構造観察が可能です ～ FIB-SEM (170) ～
【形態観察】 3D-TEMによりナノ粒子を三次元観察することができます ～ 3D-TEM (169) ～
【形態観察】 ナノ構造の透過像と表面像が同時に得られます ～ FE-TEM (168) ～
【組成分析】 ICP-MS/MSで超高感度金属元素分析が可能です ～ ICP-MS/MS (157) ～
【組成分析】 標準物質が無くても未知化合物の定量が可能です ～ IC(LC)-ICP-MS (162) ～
【組成分析】 熱による分解挙動と外観変化を同時に確認できます ～ TG-MS (161) ～
【形態観察】 やわらかい材料の元素分析が可能です ～ 冷却FIB-SEM-EDX (103) ～
【形態観察】 複合材料の三次元元素マッピングが可能です ～ 3D-EDX (102) ～
【表面分析】 極薄局所領域の欠陥が可視化できます ～ SPM (145) ～
【形態観察】 空間分解能1nmで材料の状態解析ができます ～ TEM、EELS (146) ～
【形態観察】 サブμm～mmオーダーの三次元構造を高分解能観察できます ～ X線CT (144) ～
【組成分析】 ガスの発生挙動を連続測定することができます ～ EGA-MS (142) ～
【表面分析】 導電性フィラーの分散性と導電パスの同一視野観察ができます ～ SPM〔EFM，C-AFM〕 (134) ～
【表面分析】 原子ステップの観察ができます ～ SPM (139) ～
【形態観察】 新規FE-(S)TEMで微小領域の分析がハイスループットに行えます ～ FE-(S)TEM (131) ～
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