異物・付着物・汚染
【組成分析】 高分子材料中の添加剤のイメージングができます ～MALDI-TOF MS～ (154)
【形態観察】 空間分解能1nmで材料の状態解析ができます ～TEM、EELS～ (146)
【形態観察】 サブμm～mmオーダーの三次元構造を高分解能観察できます ～X線CT～ (144)
【形態観察】新規FE-(S)TEMで微小領域の分析がハイスループットに行えます ～新規FE-(S)TEM～ (131)
【形態観察】サブミクロンからミクロンオーダーの三次元構造を可視化します ～3D-SEM～ (053)
【形態観察】サブミクロン領域がピンポイントでサンプリングできます ～FIB-SIM、断面SEM～ (026)
【表面分析】表面偏析物の化学組成と分布状態がわかります ～TOF-SIMS～ (019)
【表面分析】微量残渣の元素と化学構造がわかります ～TOF-SIMS～ (020)
【表面分析】極表面成分の化学状態まで定量できます ～ESCA、TOF-SIMS～ (021)
【表面分析】極薄付着物の組成分布が1ミクロンレベルでわかります ～TOF-SIMS～ (022)
【表面分析】材料表面の揮発性物質を分析できます ～TOF-SIMS～ (043)
【表面分析】ピンポイントの熱物性評価ができます ～ナノTA～ (062)
【表面分析】ナノ薄膜の熱物性評価ができます ～ナノTA～ (061)
【表面分析】リチウムイオン電池の電極表面組成を大気非暴露下で評価できます(055) ～ESCA、TOF-SIMS～
【組成分析】微量物の構造詳細解析能力がアップしました ～NMR（MASプローブ）～ (009)
【組成分析】埋もれた微小異物の組成がわかります(074) ～Ar-GCIB-TOF-SIMS～
【組成分析】異常部の組成を可視化します ～FT-IR～ (011)
異物の詳細化学構造がわかります(023)
何が、どこに、どのような状態で存在するかわかります(013)
ミクロンオーダーの粒子が自由に取り扱え、分析できます(012)
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