有機・高分子材料の形態観察、表面解析、組成分析は株式会社日東分析センターにお任せ下さい。

走査型プロ―ブ顕微鏡
Scanning Probe Microscope(SPM)

1. 概要

カンチレバーと呼ばれる微小な板バネ先端に取り付けた探針(プローブ)と試料表面との間に働く様々な物理量を検知し、表面形状および物性マッピング測定を行うことができる装置です。


2. 特徴

・3次元形状粗さ解析
・物性マッピング(電流像、抵抗像、電気力勾配像、電位像、磁気力勾配像、
 熱伝導像、粘弾性像、摩擦像、吸着力像など)
・局所熱分析(ナノTA)
・環境制御下測定(真空、温度、湿度、液中)


3. 測定対象試料とサイズ

ポリマー、金属などの固体
試料サイズ:最大約15×15×7mm
測定範囲 :平面方向 0.5µm□~150µm□
      垂直方向 0.1nm~15µm

走査型プロ―ブ顕微鏡

分析事例

ナノオーダーの精度で表面形状がわかります (017)
ナノ薄膜の熱物性評価ができます (061)
ピンポイントの熱物性評価ができます (062)
サブミクロン~ミクロンオーダーの熱伝導性の二次元分布がわかります (063)
ナノ~ミクロンオーダーの仕事関数分布がわかります (091)
ナノ~ミクロンオーダーの磁区構造がわかります (092)
ナノ~ミクロンオーダーの電流分布がわかります (093)
リチウムイオン電池正極の導電分布の可視化ができます (113)

お問い合わせ・ご相談

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